Metrical Scale of Intelligence Test 메트릭 지능검사: 1905년 Binet와 Theodore Simon은 정상적인 교육효과를 얻을 수 없는 아동을 가려내기 위해 오늘날과 같은 형태의 지능검사를 최초로 개발하였다. 처음에는 학교적성 검사를 위한 것으로, 학교에서 낙제할 가능성이 있는 아동들을 판별할 목적으로 만들었다. Binet 시대 이후로, 이 검사는 학업에 대한 아동의 잠재력을 판별하고, 추론하고, 결정하는데 유용한 정보를 얻기 위해 계속하여 사용되어 오고 있다